利用XPS分析技术,可以较精确地分析测定高分子材料经等离子处理后表面元素的变化情况;通过分峰处理可以进一步确定表面元素的变化情况以及各种功能性基团的衰减情况。 3 静态二次离子质谱(SSIMS) 静态二次离子质谱(SSIMS)技术是20世纪70年代发展起 来的一种表面分析技术。
等离子体是由电子、离子等带电粒子以及中性粒子(原子、分子、微料等)组成的,宏观上呈现准中性,且具有集体效应的混合气体。等离子体的状态可通过各种方法测定，划格法漆膜附着力标准通常有等离子体照相、分光法、光谱分析、质量分析法和电子探针法等。其中：（1）等离子体照相利用等离子体自身发射的光(红外线、可见光、紫外线、X射线)来照相,可以得到发光区的宏观图像结构及其变化。（2）分光法包括发光分光法和吸光光度法。
低温等离子体清洗机可以提高材料的表面附着力，划格法漆膜附着力标准是一种非常环保的处理方法。如果附着力高于两种粘结剂中一种粘结剂的粘接强度，则粘接性能较好；如果附着的分离不是由于化合物的溶解，而是由于一对共轭物中的物质的断裂，这就对应了。如果涂层（涂层、粘合剂）完全润湿基材，则可达到良好的附着力。润湿性通常可通过以下方法测定：1.检查油墨；2.实验室检测；3.接触角测量。
我们的等离子清洗设备无论是采购原材料还是配件，划格法漆膜附着力测定即使每个过程的组装和制造过程都受到严格控制，仍然非常专业。再加上及时完善的售后团队，您可以放心购买。而我们的机型标准比较完善：等离子处理设备、
