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超薄(& lt; 40撕咬,)对于SiO2介质层的TDDB破坏,模型喷漆没有附着力吗吗可以采用幂律电压模型。根据模型可知,由于介电层很薄,缺陷的产生与电子直接隧穿栅氧化层引起的氢释放成正比,而测量到的缺陷产生率是施加于栅氧化层电压的幂函数。因此,失效时间与电压的关系isTF= B0V-n(7-12)。当氧化层足够薄时,缺陷的产生率与氧化层厚度无关,但导致氧化层击穿的临界缺陷密度与氧化层厚度密切相关。
对于低k材料TDDB,模型喷漆没有附着力吗吗有一个对应的根号E模型。对比不同模型与同一组TDDB加速试验数据的拟合曲线。对于高电场强度范围内的数据点,各模型拟合良好。但当外推到低电场强度时,四种模型差异较大。模型E外推的失效时间较短,而模型1/E的失效时间较长,说明模型E比较保守,模型1/E比较激进。
在FN电流的作用下,模型喷漆没有附着力栅氧化层和界面都会产生缺陷,产生的损伤会引起IC成品率降低,并会加速热载流子退化和TDDB效应,引起器件长期可靠性问题。在集成电路制造技术中,充电效应引起的栅氧化层退化是一个严重的问题。 引起PID的机理主要有以下几种: (1)等离子体密度。高的等离子体密度意味着更大的电流在充电导致损伤的模型下,更高的等离子体密度更容易引起PID问题。
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