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合金模型漆面附着力差

IBM公司提出的P4 (Post Porosity Plasma Protection)方法能有效降低多孔low-k材料在等离子体蚀刻时的损伤,合金模型漆面附着力差不同电 场强度下,初沉积完的low-k和经过等离子体处理或VUV照射完的low-kTDDB失效时间,实线为VE模型,(b)经过和没经过P4方法保护的碳耗尽层对比 经过P4方法保护的low-k在蚀刻后的碳耗尽层大大减少,孔隙率越高效果越明显。

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型腔尺寸和材料 型腔尺寸是影响价格的主要因素。由于腔体较小,合金模型漆面附着力差小型测试模型更便宜。这种机器适用于大学的实验研究。也就是说,腔体越大,真空技能越难,价格也越高。材料方面,以小型机为例,主要有不锈钢型腔和石英型腔两种。其实这两款车型的价格差异并没有那么大,但只能看作是一个影响因素,而不是一个很大的影响因素。 2、电源(等离子发生器) 国产电源与进口电源价格相差较大也是影响价格的一大因素。

工程上一般用低浓度氯氟酸(DHF)处理等离子体刻蚀的SiCOH,合金模型漆面附着力差通过观察碳耗尽层的厚度来表征等离子体对SiCOH的损伤程度。IBM提出的P4(Post-Porosition Plasmal Protection)方法可以有效地减少等离子体刻蚀过程中多孔低k材料的损伤。在不同电场强度下,等离子体处理或真空紫外辐照后低K和低KTDDB的失效时间均为VE模型。

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